Des nouvelles méthodes pour tester les performances des composants d’électronique moléculaire

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Une équipe de chercheurs de Rice University (Texas) vient de décrire une nouvelle méthode pour mesurer les performances des composants d’électronique moléculaire. L’utilisation de molécules organiques dans les semiconducteurs est en effet une des voies explorées pour l’amélioration des caractéristiques et dépasser les limites de l’électronique CMOS traditionnelle. Une des difficultés consiste cependant à réellement mesurer les performances de ces nouveaux composants sans utiliser les approches habituelles à base de contacts métalliques qui faussent les mesures. Les méthodes de tests traditionnelles utilisent des empilements électrode métallique -monocouche moléculaire- électrode métallique. Le métal est généralement déposé par une méthode CVD (déposition en phase vapeur) mais les atomes métalliques à haute énergie peuvent contaminer la couche organique et dégrader les molécules étudiées. L’équipe de James Tour a mis au point une technique qui n’utilise pas de métal mais du silicium monocristallin et des nanotubes de carbone a simple paroi. La couche de nanotubes établit une connexion électrique entre la couche organique et des électrodes en or, en permettant de s’assurer que les effets électriques mesurés proviennent réellement des molécules organiques et pas de jonctions métalliques parasites. Ces travaux sont publiés dans Nature Materials du mois de décembre 05.

Source :


- James Tour Group : http://www.jmtour.com/
- Nature Materials Metal-free silicon-molecule-nanotube testbed and memory device : http://www.nature.com/nmat/index.html

Rédacteur :

Christophe Lerouge, attache.stic@consulfrance-sanfrancisco.org

Voir en ligne : http://www.bulletins-electroniques….